NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 61760-1 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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IEC 60068-3-6 | 2018-01 | Umweltprüfungen - Teil 3-6: Unterstützende Dokumentation und Leitfaden - Bestätigung des Leistungvermögens von Temperatur- /Klimaprüfkammern Mehr |
IEC 60068-3-7 | 2020-07 | Umgebungseinflüsse - Teil 3-7: Unterstützende Dokumentation und Leitfaden - Messungen in Temperaturprüfkammern für Prüfungen A (Kälte) und B (trockene Wärme) (mit Prüfgut) Mehr |
IEC 60068-3-8 | 2003-08 | Umweltprüfungen - Teil 3-8: Unterstützende Dokumentation und Leitfaden; Wahl zwischen verschiedenen Schwingprüfungen Mehr |
IEC 60068-4 | 1987 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 4: Informationen für die Verfasser von technischen Spezifikationen. Prüfungszusammenfassungen Mehr |
IEC 60068-4 AMD 1 | 1992-02 | Umweltprüfungen; Teil 4: Informationen für den Verfasser von Einzelbestimmungen; Zusammenfassungen zu den Prüfungen; Änderung 1 Mehr |
IEC 60068-4 AMD 2 | 1994-03 | Umweltprüfungen; Teil 4: Informationen für den Verfasser von Einzelbestimmungen; Zusammenfassungen zu den Prüfungen; Änderung 2 Mehr |
IEC 60068-5-2 | 1990-12 | Umweltprüfung; Teil 5: Richtlinie für das Entwerfen von Prüfverfahren; Begriffe Mehr |
IEC 60191-6 | 2009-11 | Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen - Teil 6: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Gehäusezeichnungen von SMD-Halbleitergehäusen Mehr |
IEC 60194-2 | 2017-12 | Konstruktion, Herstellung und Bestückung von Leiterplatten - Wörterverzeichnis - Teil 2: Verbreiteter Gebrauch in elektronischen Technologien sowie für Leiterplatten und elektronische Montagetechnologien Mehr |
IEC 60286-4 | 2013-07 | Gurtung und Magazinierung von Bauteilen für automatische Verarbeitung - Teil 4: Stangenmagazine für elektronische Bauelemente mit verschiedenen Gehäusen Mehr |