NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN IEC 61760-1 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
IEC 60068-3-6 2018-01 Umweltprüfungen - Teil 3-6: Unterstützende Dokumentation und Leitfaden - Bestätigung des Leistungvermögens von Temperatur- /Klimaprüfkammern Mehr 
IEC 60068-3-7 2020-07 Umgebungseinflüsse - Teil 3-7: Unterstützende Dokumentation und Leitfaden - Messungen in Temperaturprüfkammern für Prüfungen A (Kälte) und B (trockene Wärme) (mit Prüfgut) Mehr 
IEC 60068-3-8 2003-08 Umweltprüfungen - Teil 3-8: Unterstützende Dokumentation und Leitfaden; Wahl zwischen verschiedenen Schwingprüfungen Mehr 
IEC 60068-4 1987 Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 4: Informationen für die Verfasser von technischen Spezifikationen. Prüfungszusammenfassungen Mehr 
IEC 60068-4 AMD 1 1992-02 Umweltprüfungen; Teil 4: Informationen für den Verfasser von Einzelbestimmungen; Zusammenfassungen zu den Prüfungen; Änderung 1 Mehr 
IEC 60068-4 AMD 2 1994-03 Umweltprüfungen; Teil 4: Informationen für den Verfasser von Einzelbestimmungen; Zusammenfassungen zu den Prüfungen; Änderung 2 Mehr 
IEC 60068-5-2 1990-12 Umweltprüfung; Teil 5: Richtlinie für das Entwerfen von Prüfverfahren; Begriffe Mehr 
IEC 60191-6 2009-11 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen - Teil 6: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Gehäusezeichnungen von SMD-Halbleitergehäusen Mehr 
IEC 60194-2 2017-12 Konstruktion, Herstellung und Bestückung von Leiterplatten - Wörterverzeichnis - Teil 2: Verbreiteter Gebrauch in elektronischen Technologien sowie für Leiterplatten und elektronische Montagetechnologien Mehr 
IEC 60286-4 2013-07 Gurtung und Magazinierung von Bauteilen für automatische Verarbeitung - Teil 4: Stangenmagazine für elektronische Bauelemente mit verschiedenen Gehäusen Mehr