NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 60664-1 ; VDE 0110-1:2022-07 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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| IEC 60068-2-18 | 2017-03 | Umgebungsprüfungen - Teil 2-18: Prüfungen, Prüfung R und Leitfaden: Wasser Mehr |
| IEC 60068-2-20 | 2021-03 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-20: Prüfungen - Prüfung Ta und Tb: Prüfverfahren für die Lötbarkeit und Lötwärmebeständigkeit von Bauelementen mit herausgeführten Anschlüssen Mehr |
| IEC 60068-2-21 | 2021-07 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-21: Tests - Test U: Widerstandsfähigkeit der Anschlüsse und integrierter Befestigungsmittel Mehr |
| IEC 60068-2-27 | 2008-02 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-27: Prüfverfahren - Prüfung Ea und Leitfaden: Schocken Mehr |
| IEC 60068-2-30 | 2005-08 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-30: Prüfverfahren - Prüfung Db: Feuchte Wärme, zyklisch (12 + 12 Stunden) Mehr |
| IEC 60068-2-31 | 2008-05 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-31: Prüfverfahren - Prüfung Ec: Schocks durch raue Handhabung, vornehmlich für Geräte Mehr |
| IEC 60068-2-38 | 2021-03 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-38: Prüfverfahren - Prüfung Z/AD: Zusammengesetzte Prüfung, Temperatur/Feuchte, zyklisch Mehr |
| IEC 60068-2-39 | 2015-09 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-39: Prüfverfahren - Prüfungen und Leitfaden: Kombinierte Prüfung der Temperatur oder Temperatur und Feuchte mit niedrigem Luftdruck Mehr |
| IEC 60068-2-40 | 1976 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung Z/AM: Prüfung mit kombinierter Beanspruchung durch niedrige Temperaturen und Unterdruck Mehr |
| IEC 60068-2-40 AMD 1 | 1983 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung Z/AM: Prüfung mit kombinierter Beanspruchung durch niedrige Temperaturen und Unterdruck; Änderung 1 zu IEC 60068-2-40 Mehr |
