NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN IEC 62878-1 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
IEC 60068-2-1 2007-03 Umgebungseinflüsse - Teil 2-1: Prüfverfahren - Prüfung A: Kälte Mehr 
IEC 60068-2-14 2009-01 Umgebungseinflüsse - Teil 2-14: Prüfverfahren - Prüfung N: Temperaturwechsel Mehr 
IEC 60068-2-2 2007-07 Umgebungseinflüsse - Teil 2-2: Prüfverfahren - Prüfung B: Trockene Wärme Mehr 
IEC 60068-2-21 2021-07 Umgebungseinflüsse - Teil 2-21: Tests - Test U: Widerstandsfähigkeit der Anschlüsse und integrierter Befestigungsmittel Mehr 
IEC 60068-2-27 2008-02 Umgebungseinflüsse - Teil 2-27: Prüfverfahren - Prüfung Ea und Leitfaden: Schocken Mehr 
IEC 60068-2-6 2007-12 Umgebungseinflüsse - Teil 2-6: Prüfverfahren - Prüfung Fc: Schwingen, sinusförmig Mehr 
IEC 60068-2-69 2017-03 Umgebungseinflüsse - Teil 2-69: Prüfungen - Prüfung Te/TC: Prüfung der Lötbarkeit von Bauelementen der Elektronik und Leiterplatten mit der Benetzungswaage (Kraftmessung) Mehr 
IEC 60068-2-78 2012-10 Umgebungseinflüsse - Teil 2-78: Prüfverfahren - Prüfung Cab: Feuchte Wärme, konstant Mehr 
IEC 60194-2 2017-12 Konstruktion, Herstellung und Bestückung von Leiterplatten - Wörterverzeichnis - Teil 2: Verbreiteter Gebrauch in elektronischen Technologien sowie für Leiterplatten und elektronische Montagetechnologien Mehr 
IEC 61340-5-1 2016-05 Electrostatics - Part 5-1: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena - General requirements Mehr