NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60947-5-4 ; VDE 0660-211:1998-05 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| EN 60068-2-69 | 1996-01 | Umweltprüfungen - Teil 2: Prüfungen - Prüfung Te: Prüfung der Lötbarkeit von Bauelementen der Elektronik für Oberflächenmontagetechnologie mit der Benetzungswaage (IEC 60068-2-69:1995) Mehr |
| EN 60068-2-7 | 1993-03 | Grundlegende Umweltprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung Ga und Leitfaden: Gleichförmiges Beschleunigen (IEC 60068-2-7:1983 + A1:1986) Mehr |
| EN 60068-2-70 | 1996-01 | Umweltprüfungen - Teil 2: Prüfungen - Prüfung Xb: Prüfung der Beständigkeit von Kennzeichnungen und Aufschriften gegen Abrieb, verursacht durch Wischen mit Fingern und Händen (IEC 60068-2-70:1995) Mehr |
| EN 60068-2-75 | 1997-10 | Umweltprüfungen - Teil 2: Prüfungen - Prüfung Eh: Hammerprüfungen (IEC 60068-2-75:1997) Mehr |
| EN 60947-1 | 1997-11 | Niederspannungsschaltgeräte - Teil 1: Allgemeine Festlegungen (IEC 60947-1:1996, modifiziert) Mehr |
| EN 60947-5-1 | 1991-10 | Niederspannungsschaltgeräte; Teil 5: Steuergeräte und Schaltelemente; Hauptabschnitt 1: Elektromechanische Steuergeräte (IEC 60947-5-1:1990) Mehr |
| EN 60947-5-1/A12 | 1997-06 | Niederspannung-Schaltgeräte - Teil 5: Steuergeräte und Schaltelemente - Hauptabschnitt 1: Elektromechanische Steuergeräte; Änderung A12 Mehr |
| EN 61131-2/A11 | 1996-06 | Speicherprogrammierbare Steuerungen - Teil 2: Betriebsmittelanforderungen und Prüfungen Mehr |
| IEC 60068-2-40 | 1976 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung Z/AM: Prüfung mit kombinierter Beanspruchung durch niedrige Temperaturen und Unterdruck Mehr |
| IEC 60068-2-40 AMD 1 | 1983 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung Z/AM: Prüfung mit kombinierter Beanspruchung durch niedrige Temperaturen und Unterdruck; Änderung 1 zu IEC 60068-2-40 Mehr |
