NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 50178 ; VDE 0160:1998-04 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60747-4 Edition 2.1 | 2017-01 | Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors Mehr |
| IEC 60747-5-1 | 1997-08 | Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-1: Optoelektronische Bauelemente - Allgemeines Mehr |
| IEC 60747-5-1 AMD 1 | 2001-03 | Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-1: Optoelektronische Bauelemente; Allgemeines; Änderung 1 Mehr |
| IEC 60747-5-1 AMD 2 | 2002-03 | Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-1: Optoelektronische Bauelemente; Allgemeines; Änderung 2 Mehr |
| IEC 60747-5-1 Edition 1.2 | 2002-05 | Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-1: Optoelectronic devices; General Mehr |
| IEC 60747-5-10 | 2019-12 | Halbleiterbauelemente - Teil 5-10: Optoelektronische Bauelemente - Lichtemittierende Dioden - Prüfverfahren der internen Quantenausbeute bei Raumtemperatur als Referenzpunkt Mehr |
| IEC 60747-5-11 | 2019-12 | Halbbleiterbauelemente - Teil 5-11: Optoelektronische Bauelemente - Lichtemittierende Dioden - Prüfverfahren für strahlende und nichtstrahlende Ströme von lichtemittierende Dioden Mehr |
| IEC 60747-5-2 | 1997-09 | Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-2: Optoelektronische Bauelemente - Wesentliche Grenz- und Kennwerte Mehr |
| IEC 60747-5-2 AMD 1 | 2002-03 | Einzel-Halbeleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-2: Optoelektronische Bauelemente; Wesentliche Grenz- und Kennwerte; Änderung 1 Mehr |
| IEC 60747-5-2 Edition 1.1 | 2009-11 | Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-2: Optoelektronische Bauelemente - Wesentliche Grenz- und Kennwerte Mehr |
