NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN VDE 0620-2-1 ; VDE 0620-2-1:2021-02 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| DIN EN 60512-23-4 | 2002-07 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-4: Prüfungen der Schirmung und Dämpfung; Prüfung 23d: Reflexion in Übertragungsstrecken im Zeitbereich (IEC 60512-23-4:2001); Deutsche Fassung EN 60512-23-4:2001 Mehr |
| DIN EN 60512-23-7 | 2005-10 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-7: Prüfungen der Schirmung und Dämpfung - Prüfung 23g: Effektive Transferimpedanz von Steckverbindern (IEC 60512-23-7:2005); Deutsche Fassung EN 60512-23-7:2005 Mehr |
| DIN EN 60512-24-1 ; VDE 0687-512-24-1:2013-05 | 2013-05 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 24-1: Prüfungen im magnetischen Störfeld - Prüfung 24a: Restmagnetismus (IEC 60512-24-1:2010); Deutsche Fassung EN 60512-24-1:2012 Mehr |
| DIN EN 60512-2-5 | 2004-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-5: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands - Prüfung 2e: Kontaktstörungen (IEC 60512-2-5:2003); Deutsche Fassung EN 60512-2-5:2003 Mehr |
| DIN EN 60512-25-1 | 2002-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-1: Prüfung 25a: Übersprechen (IEC 60512-25-1:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-1:2001 Mehr |
| DIN EN 60512-25-2 | 2002-12 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-2: Prüfung 25b: Dämpfung (Einfügedämpfung) (IEC 60512-25-2:2002); Deutsche Fassung EN 60512-25-2:2002 Mehr |
| DIN EN 60512-25-3 | 2002-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderung der Anstiegszeit (IEC 60512-25-3:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-3:2001 Mehr |
| DIN EN 60512-25-4 | 2002-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d: Laufzeitverzögerung (IEC 60512-25-4:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-4:2001 Mehr |
| DIN EN 60512-25-5 | 2005-05 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-5: Prüfung 25e: Rückflussdämpfung (IEC 60512-25-5:2004); Deutsche Fassung EN 60512-25-5:2004 Mehr |
| DIN EN 60512-25-6 | 2004-12 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-6: Prüfung 25f: Augendiagramm und Jitter (IEC 60512-25-6:2004); Deutsche Fassung EN 60512-25-6:2004 Mehr |
