NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 60728-113 ; VDE 0855-113:2019-05 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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| DIN EN 61280-2-9 | 2009-12 | Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationsuntersysteme - Teil 2-9: Digitale Systeme - Messung des optischen Signal-Rausch-Verhältnisses für dichte Wellenlängen-Multiplex-Systeme (IEC 61280-2-9:2009); Deutsche Fassung EN 61280-2-9:2009 Mehr |
| DIN EN 61290-1-2 | 2006-07 | Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Verstärker - Teil 1-2: Optische Leistungs- und Verstärkerparameter - Verfahren mit elektrischem Spektralanalysator (IEC 61290-1-2:2005); Deutsche Fassung EN 61290-1-2:2005 Mehr |
| DIN EN 61754-13 | 2006-11 | Steckgesichter von Lichtwellenleiter-Steckverbindern - Teil 13: Bauart FC-PC Steckverbinderfamilie (IEC 61754-13:2006); Deutsche Fassung EN 61754-13:2006 Mehr |
| EN 300019-1-4 V 2.2.1 | 2014-04 | Environmental Engineering (EE) - Environmental conditions and environmental tests for telecommunications equipment - Part 1-4: Classification of environmental conditions - Stationary use at non-weatherprotected locations Mehr |
| IEC 60050-702 | 1992-03 | Internationales Elektrotechnisches Wörterbuch; Kapitel 702: Schwingungen, Signale und dazugehörige Baueinheiten Mehr |
| IEC 60050-731 | 1991-10 | Internationales elektrotechnisches Wörterbuch; Kapitel 731: Lichtwellenleitertechnik Mehr |
| IEC 60068-2-1 | 2007-03 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-1: Prüfverfahren - Prüfung A: Kälte Mehr |
| IEC 60068-2-10 | 2005-06 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-10: Prüfverfahren - Prüfung J und Leitfaden: Schimmelwachstum Mehr |
| IEC 60068-2-10 AMD 1 | 2018-04 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-10: Prüfverfahren - Prüfung J und Leitfaden: Schimmelwachstum; Änderung 1 Mehr |
| IEC 60068-2-10 Edition 6.1 | 2018-04 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-10: Prüfverfahren - Prüfung J und Leitfaden: Schimmelwachstum Mehr |
