NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 62148-1 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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| IEC 60603-7-81 Corrigendum 1 | 2017-06 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Teil 7-81: Bauartspezifikation für geschirmte freie und feste Steckverbinder, 8polig, für Datenübertragungen bis 2 000 MHz - Korrektur 1 Mehr |
| IEC 60603-7-82 | 2016-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Teil 7-82: Bauartspezifikation für geschirmte freie und feste Steckverbinder, 8polig, 12 Kontakte für Datenübertragungen bis 2000 MHz Mehr |
| IEC 60603-8 | 1990-12 | Steckverbinder für gedruckte Schaltungen für Frequenzen unter 3 MHz; Teil 8: Indirekte Steckverbinder für gedruckte Schaltungen, Rastermaß 2,54 mm (0,1 in), Querschnitt der männlichen Kontakte 0,63 mm × 0,63 mm Mehr |
| IEC 60793-1-20 | 2014-10 | Lichtwellenleiter - Teil 1-20: Messmethoden und Prüfverfahren - Fasergeometrie Mehr |
| IEC 60793-1-20 Corrigendum 1 | 2016-03 | Lichtwellenleiter - Teil 1-20: Messmethoden und Prüfverfahren - Fasergeometrie; Korrektur 1 Mehr |
| IEC 60793-1-21 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-21: Messmethoden und Prüfverfahren; Beschichtungsgeometrie Mehr |
| IEC 60793-1-22 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-22: Messmethoden und Prüfverfahren; Längenmessung Mehr |
| IEC 60793-1-30 | 2010-05 | Lichtwellenleiter - Messmethoden und Prüfverfahren - Teil 1-30: Nachweis von Fehlern in Fasern Mehr |
| IEC 60793-1-32 | 2018-11 | Optical fibres - Part 1-32: Measurement methods and test procedures - Coating strippability Mehr |
| IEC 60793-1-33 | 2017-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-33: Messmethoden und Prüfverfahren - Spannungskorrosionsempfindlichkeit Mehr |
