NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN 61076-3-104 ; VDE 0687-76-3-104:2018-06 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
IEC 60512-13-2 2006-02 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 13-2: Prüfungen der mechanischen Bedienbarkeit - Prüfung 13b: Gesamtsteck- und -ziehkraft Mehr 
IEC 60512-15-6 2008-05 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 15-6: Mechanische Prüfungen an Steckverbindern - Prüfung 15f: Wirksamkeit von Steckverbindern - Verriegelungen Mehr 
IEC 60512-2-1 2002-02 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-1: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstandes; Prüfung 2a: Durchgangswiderstand; Millivoltmethode Mehr 
IEC 60512-2-5 2003-05 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-5: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands; Prüfung 2e: Kontaktstörungen Mehr 
IEC 60512-26-100 2008-07 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 26-100: Messaufbau- Prüf- und Referenzanordnung und Messverfahren für Steckverbinder nach IEC 60603-7 - Prüfungen 26a bis 26g Mehr 
IEC 60512-3-1 2002-02 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 3-1: Prüfungen der Isolation; Prüfung 3a: Isolationswiderstand Mehr 
IEC 60512-4-1 2003-05 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 4-1: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung; Prüfung 4a: Spannungsfestigkeit Mehr 
IEC 60512-6-4 2002-02 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 6-4: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung; Prüfung 6d: Schwingen (sinusförmig) Mehr 
IEC 60512-9-1 2010-03 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 9-1: Dauerprüfungen - Prüfung 9a: Mechanische Lebensdauer Mehr 
IEC 60512-9-2 2011-11 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 9-2: Dauerprüfungen - Prüfung 9b: Elektrische Belastung bei hoher Temperatur Mehr