NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 62435-5 ; VDE 0884-135-5:2017-10 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60749-22 | 2002-09 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 22: Kontaktfestigkeit Mehr |
| IEC 60749-3 | 2017-03 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung Mehr |
| IEC 61340-2-1 | 2015-08 | Elektrostatik - Teil 2-1: Messverfahren - Fähigkeit von Materialien und Erzeugnissen, elektrostatische Ladungen abzuleiten Mehr |
| IEC 61340-5-1 | 2016-05 | Electrostatics - Part 5-1: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena - General requirements Mehr |
| IEC 62435-1 | 2017-01 | Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 1: Allgemeines Mehr |
| IEC 62435-5 | 2017-01 | Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 5: Chip- und Wafererzeugnisse Mehr |
| IEC/TR 62258-3 | 2010-08 | Halbleiter-Chip-Erzeugnisse - Teil 3: Empfehlungen für die Praxis bei Handhabung, Verpackung und Lagerung Mehr |
| IEC/TS 61945 | 2000-03 | Integrierte Schaltungen - Anerkennungsverfahren von Fertigungslinien - Methodik für die Technologie- und Ausfallanalyse Mehr |
