NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61076-3-120 ; VDE 0687-76-3-120:2017-06 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| DIN EN 60512-25-3 | 2002-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderung der Anstiegszeit (IEC 60512-25-3:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-3:2001 Mehr |
| DIN EN 60512-25-4 | 2002-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d: Laufzeitverzögerung (IEC 60512-25-4:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-4:2001 Mehr |
| DIN EN 60512-25-5 | 2005-05 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-5: Prüfung 25e: Rückflussdämpfung (IEC 60512-25-5:2004); Deutsche Fassung EN 60512-25-5:2004 Mehr |
| DIN EN 60512-25-6 | 2004-12 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-6: Prüfung 25f: Augendiagramm und Jitter (IEC 60512-25-6:2004); Deutsche Fassung EN 60512-25-6:2004 Mehr |
| DIN EN 60512-25-7 | 2005-12 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-7: Prüfung 25g - Impedanz, Reflexionskoeffizient und Spannungsstehwellenverhältnis (IEC 60512-25-7:2004); Deutsche Fassung EN 60512-25-7:2005 Mehr |
| DIN EN 60512-25-9 | 2009-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-9: Signalintegritätsprüfungen - Prüfung 25i: Externes Nebensprechen (Alien Crosstalk) (IEC 60512-25-9:2008); Deutsche Fassung EN 60512-25-9:2008 Mehr |
| DIN EN 60512-2-6 | 2003-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-6: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands; Prüfung 2f: Durchgangswiderstand Gehäuse (Schirm) (IEC 60512-2-6:2002); Deutsche Fassung EN 60512-2-6:2002 Mehr |
| DIN EN 60512-26-100 ; VDE 0687-512-26-100:2011-12 | 2011-12 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 26-100: Messaufbau, Prüf- und Referenzanordnung und Messverfahren für Steckverbinder nach IEC 60603-7 - Prüfungen 26a bis 26g (IEC 60512-26-100:2008 + A1:2011); Deutsche Fassung EN 60512-26-100:2008 + A1:2011 Mehr |
| DIN EN 60512-27-100 ; VDE 0687-512-27-100:2012-09 | 2012-09 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 27-100: Signalintegritätsprüfungen bis 500 MHz an Steckverbindern der Reihe IEC 60603-7 - Prüfungen 27a bis 27g (IEC 60512-27-100:2011); Deutsche Fassung EN 60512-27-100:2012 Mehr |
| DIN EN 60512-29-100 ; VDE 0687-512-29-100:2016-03 | 2016-03 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 29-100: Signalintegritätsprüfungen bis 500 MHz an Steckverbindern M12 - Prüfungen 29a bis 29g (IEC 60512-29-100:2015); Deutsche Fassung EN 60512-29-100:2015 Mehr |
