NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN IEC/TS 62282-7-2 ; VDE V 0130-7-2:2015-06 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60512-1-1 | 2002-02 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 1-1: Allgemeine Untersuchungen; Prüfung 1a: Sichtprüfungen Mehr |
| IEC 60512-8-1 | 2010-06 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 8-1: Prüfungen mit statischer Last (feste Steckverbinder) - Prüfung 8a: Statische Querlast Mehr |
| IEC 60512-8-2 | 2011-04 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 8-2: Prüfungen mit statischer Last (feste Steckverbinder) - Prüfung 8b: Statische Axiallast Mehr |
| ISO 2602 | 1980-02 | Statistische Auswertung von Prüfergebnissen; Schätzung des Erwartungswertes; Vertrauensbereich Mehr |
| ISO 2854 | 1976-02 | Statistische Auswertung von Daten - Schätz- und Testverfahren für Erwartungswerte und Varianzen Mehr |
| ISO/IEC Guide 98-3 | 2008-09 | Messunsicherheit - Teil 3: Leitfaden zur Angabe der Unsicherheit beim Messen Mehr |
