NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN 60728-1 ; VDE 0855-7:2015-03 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
ISO/IEC 14496-4 AMD 2 2005-04 Informationstechnik - Codierung von audio-visuellen Objekten - Teil 4: Übereinstimmungsprüfung - Änderung 2: MPEG-4 Konformitätserweiterungen für XMT und Medienknoten Mehr 
ISO/IEC 14496-4 AMD 23 2008-04 Informationstechnik - Codierung von audio-visuellen Objekten - Teil 4: Übereinstimmungsprüfung - Änderung 23: Konformität synthetischer Struktur Mehr 
ISO/IEC 14496-4 AMD 24 2008-06 Informationstechnik - Codierung von audio-visuellen Objekten - Teil 4: Übereinstimmungsprüfung - Änderung 24: Dateiformat-Konformität Mehr 
ISO/IEC 14496-4 AMD 25 2008-06 Informationstechnik - Codierung von audio-visuellen Objekten - Teil 4: Übereinstimmungsprüfung - Änderung 25: LASeR- und SAF-Konformität Mehr 
ISO/IEC 14496-4 AMD 26 2008-10 Informationstechnik - Codierung von audio-visuellen Objekten - Teil 4: Übereinstimmungsprüfung; Änderung 26: Konformitätslevel und Bitstreams für das Offene Fontformat Mehr 
ISO/IEC 14496-4 AMD 27 2008-10 Informationstechnik - Codierung von audio-visuellen Objekten - Teil 4: Übereinstimmungsprüfung - Änderung 27: Konformität von LASeR- und SAF-Erweiterungen Mehr 
ISO/IEC 14496-4 AMD 28 2008-05 Informationstechnik - Codierung von audio-visuellen Objekten - Teil 4: Übereinstimmungsprüfung - Änderung 28: Konformitätserweiterungen für einfaches Profil der Stufe 6 Mehr 
ISO/IEC 14496-4 AMD 29 2008-07 Informationstechnik - Codierung von audio-visuellen Objekten - Teil 4: Übereinstimmungsprüfung - Änderung 29: Symbolische Musikdarstellungsübereinstimmung Mehr 
ISO/IEC 14496-4 AMD 3 2005-04 Informationstechnik - Codierung von audio-visuellen Objekten - Teil 4: Übereinstimmungsprüfung - Änderung 3: Visuell neue Ebenen und Werkzeuge Mehr 
ISO/IEC 14496-4 AMD 30 2009-02 Informationstechnik - Codierung von audio-visuellen Objekten - Teil 4: Übereinstimmungsprüfung - Änderung 30: Konformitätstests für neue Profile professioneller Anwendungen Mehr