NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 62149-3 ; VDE 0886-149-3:2015-03 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 61280-2-3 | 2009-07 | Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationsuntersysteme - Teil: 2-3: Digitale Systeme - Messung von Jitter und Wander Mehr |
| IEC 61280-2-9 | 2009-02 | Grundlegende Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationsuntersysteme - Teil 2-9: Digitale Systeme - Messung des optischen Signal-Rausch-Verhältnisses für dichte Wellenlängen-Multiplex-Systeme Mehr |
| IEC 61280-4-2 | 2014-06 | Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationsuntersysteme - Teil 4-2: Installierte Kabelanlagen - Einmoden-Dämpfungs- und optische Rückflussdämpfungsmessung Mehr |
| IEC 62007-2 | 2009-01 | Optoelektronische Halbleiterbauelemente für Anwendungen in Lichtwellenleitersystemen - Teil 2: Messverfahren Mehr |
| IEC/TR 62572-2 | 2008-09 | Aktive Lichtwellenleiterbauelemente und -geräte - Zuverlässigkeitsnorm - Teil 2: Lasermodul-Funktionsminderung Mehr |
| ITU-T G.957 | 2006-03 | Optische Schnittstellen für Einrichtungen und Systeme, die sich auf synchrone Digitalhierarchie beziehen Mehr |
