NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 62149-3 ; VDE 0886-149-3:2015-03 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60068-2-81 | 2003-07 | Umweltprüfungen - Teil 2-81: Prüfungen; Prüfung Ei: Schocken; Synthese des Schockantwortspektrums Mehr |
| IEC 60068-2-83 | 2011-09 | Umweltprüfungen - Teil 2-83: Prüfungen - Prüfung Tf: Prüfung der Lötbarkeit von Bauelementen der Elektronik für Oberflächenmontage (SMD) mit der Benetzungswaage unter Verwendung von Lotpaste Mehr |
| IEC 60068-3-11 | 2007-05 | Umgebungseinflüsse - Teil 3-11: Unterstützende Dokumentation und Leitfaden - Berechnung der Messunsicherheit von Umgebungsbedingungen in Klimaprüfkammern Mehr |
| IEC 60068-3-8 | 2003-08 | Umweltprüfungen - Teil 3-8: Unterstützende Dokumentation und Leitfaden; Wahl zwischen verschiedenen Schwingprüfungen Mehr |
| IEC 60068-4 | 1987 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 4: Informationen für die Verfasser von technischen Spezifikationen. Prüfungszusammenfassungen Mehr |
| IEC 60068-4 AMD 1 | 1992-02 | Umweltprüfungen; Teil 4: Informationen für den Verfasser von Einzelbestimmungen; Zusammenfassungen zu den Prüfungen; Änderung 1 Mehr |
| IEC 60068-4 AMD 2 | 1994-03 | Umweltprüfungen; Teil 4: Informationen für den Verfasser von Einzelbestimmungen; Zusammenfassungen zu den Prüfungen; Änderung 2 Mehr |
| IEC 60068-5-2 | 1990-12 | Umweltprüfung; Teil 5: Richtlinie für das Entwerfen von Prüfverfahren; Begriffe Mehr |
| IEC 60793-1-20 | 2014-10 | Lichtwellenleiter - Teil 1-20: Messmethoden und Prüfverfahren - Fasergeometrie Mehr |
| IEC 60793-1-21 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-21: Messmethoden und Prüfverfahren; Beschichtungsgeometrie Mehr |
