NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61076-2-109 ; VDE 0687-76-2-109:2015-02 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60512-6-2 | 2002-02 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 6-2: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung; Prüfung 6b: Dauerschocken Mehr |
| IEC 60512-6-3 | 2002-02 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 6-3: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung; Prüfung 6c: Schocken (Einzelstöße) Mehr |
| IEC 60512-6-4 | 2002-02 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 6-4: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung; Prüfung 6d: Schwingen (sinusförmig) Mehr |
| IEC 60512-6-5 | 1997-10 | Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Meß- und Prüfverfahren - Teil 6: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung - Hauptabschnitt 5: Prüfung 6e: Schwingen, rauschförmig Mehr |
| IEC 60512-7-1 | 2010-03 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 7-1: Aufprallprüfungen (freie Steckverbinder) - Prüfung 7a: Freier Fall (Falltrommel) Mehr |
| IEC 60512-7-2 | 2011-11 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 7-2: Aufprallprüfungen (freie Steckverbinder) - Prüfung 7b: Kabelgebundene Fallprüfung Mehr |
| IEC 60512-8-1 | 2010-06 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 8-1: Prüfungen mit statischer Last (feste Steckverbinder) - Prüfung 8a: Statische Querlast Mehr |
| IEC 60512-8-2 | 2011-04 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 8-2: Prüfungen mit statischer Last (feste Steckverbinder) - Prüfung 8b: Statische Axiallast Mehr |
| IEC 60512-9-1 | 2010-03 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 9-1: Dauerprüfungen - Prüfung 9a: Mechanische Lebensdauer Mehr |
| IEC 60512-9-2 | 2011-11 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 9-2: Dauerprüfungen - Prüfung 9b: Elektrische Belastung bei hoher Temperatur Mehr |
