NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60728-14 ; VDE 0855-14:2014-12 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| DIN EN 61280-2-2 ; VDE 0885-802-2:2013-06 | 2013-06 | Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationsuntersysteme - Teil 2-2: Digitale Systeme - Messung des optischen Augendiagramms, der Wellenform und des Extinktionsverhältnisses (IEC 61280-2-2:2012); Deutsche Fassung EN 61280-2-2:2012 Mehr |
| DIN EN 61290-1-2 | 2006-07 | Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Verstärker - Teil 1-2: Optische Leistungs- und Verstärkerparameter - Verfahren mit elektrischem Spektralanalysator (IEC 61290-1-2:2005); Deutsche Fassung EN 61290-1-2:2005 Mehr |
| DIN EN 61290-6-1 | 1999-08 | Lichtwellenleiter-Verstärker - Grundspezifikation - Teil 6-1: Prüfverfahren für Pumpverlustparameter; optischer Demultiplexer (IEC 61290-6-1:1998); Deutsche Fassung EN 61290-6-1:1998 Mehr |
| DIN EN 61291-4 | 2012-09 | Lichtwellenleiter-Verstärker - Teil 4: Mehrkanalanwendungen - Vorlage für Leistungsspezifikationen (IEC 61291-4:2011); Deutsche Fassung EN 61291-4:2012 Mehr |
| DIN EN 80416-2 | 2002-05 | Allgemeine Grundlagen für graphische Symbole auf Einrichtungen - Teil 2: Form und Anwendung von Pfeilen (ISO 80416-2:2001); Deutsche Fassung EN 80416-2:2001 Mehr |
| IEC 60050-731 | 1991-10 | Internationales elektrotechnisches Wörterbuch; Kapitel 731: Lichtwellenleitertechnik Mehr |
| IEC 60068-1 | 2013-10 | Umgebungseinflüsse - Teil 1: Allgemeines und Leitfaden Mehr |
| IEC 60068-2-10 | 2005-06 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-10: Prüfverfahren - Prüfung J und Leitfaden: Schimmelwachstum Mehr |
| IEC 60068-2-40 AMD 1 | 1983 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung Z/AM: Prüfung mit kombinierter Beanspruchung durch niedrige Temperaturen und Unterdruck; Änderung 1 zu IEC 60068-2-40 Mehr |
| IEC 60068-2-41 | 1976 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung Z/BM: Prüfung mit kombinierter Beanspruchung durch trockene Wärme und Unterdruck Mehr |
