NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN 61747-10-1 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
IEC 60748-3 AMD 2 1994-01 Halbleiterbauelemente; Integrierte Schaltungen; Teil 3: Integrierte Analogschaltungen; Änderung 2 Mehr 
IEC 60748-3 AMD 2 Corrigendum 1 1996-06 Halbleiterbauelemente; Integrierte Schaltungen; Teil 3: Integrierte Analogschaltungen; Änderung 2 Mehr 
IEC 60748-3-1 ; QC 790202:1991-07 1991-07 Halbleiterbauelemente; diskrete Bauelemente; Teil 3: Analoge integrierte Schaltkreise; Hauptabschnitt 1: Vordruck für Bauartspezifikation für Festkörperschaltkreis-Operationsverstärker Mehr 
IEC 60748-4 ; QC 790300:1997-04 1997-04 Halbleiterbauelemente - Integrierte Schaltungen - Teil 4: Integrierte Anspassungsschaltungen Mehr 
IEC 60748-4-1 ; QC 790303:1993-11 1993-11 Halbleiterbauelemente; Integrierte Schaltungen; Teil 4: Integrierte Anpassungsschaltungen; Hauptabschnitt 1: Vordruck für Bauartspezifikationen für lineare Digital-Analog-Umsetzer (DAC) Mehr 
IEC 60748-4-2 ; QC 790304:1993-11 1993-11 Halbleiterbauelemente; Integrierte Schaltungen; Teil 4: Integrierte Anpassungsschaltungen; Hauptabschnitt 2: Vordruck für Bauartspezifikationen für lineare Analog-Digital-Umsetzer (ADC) Mehr 
IEC 60748-4-3 2006-08 Halbleiterbauelemente - Integrierte Schaltungen - Teil 4-3: Integrierte Interfaceschaltungen - Dynamische Merkmale für Analog-Digital-Konverter (ADC) Mehr 
IEC 60748-5 1997-05 Halbleiterbauelemente - Integrierte Schaltungen - Teil 5: Integrierte Kundenschaltungen Mehr 
IEC 60749-14 2003-08 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 14: Festigkeit der Bauelementeanschlüsse (Unversehrtheit der Anschlüsse) Mehr 
IEC 61747-10-1 2013-07 Flüssigkristall-Anzeige-Bauelemente - Teil 10-1: Umwelt-, Lebensdauer- und mechanische Prüfverfahren - Mechanisch Mehr