NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61747-10-1 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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IEC 60748-3 AMD 2 | 1994-01 | Halbleiterbauelemente; Integrierte Schaltungen; Teil 3: Integrierte Analogschaltungen; Änderung 2 Mehr |
IEC 60748-3 AMD 2 Corrigendum 1 | 1996-06 | Halbleiterbauelemente; Integrierte Schaltungen; Teil 3: Integrierte Analogschaltungen; Änderung 2 Mehr |
IEC 60748-3-1 ; QC 790202:1991-07 | 1991-07 | Halbleiterbauelemente; diskrete Bauelemente; Teil 3: Analoge integrierte Schaltkreise; Hauptabschnitt 1: Vordruck für Bauartspezifikation für Festkörperschaltkreis-Operationsverstärker Mehr |
IEC 60748-4 ; QC 790300:1997-04 | 1997-04 | Halbleiterbauelemente - Integrierte Schaltungen - Teil 4: Integrierte Anspassungsschaltungen Mehr |
IEC 60748-4-1 ; QC 790303:1993-11 | 1993-11 | Halbleiterbauelemente; Integrierte Schaltungen; Teil 4: Integrierte Anpassungsschaltungen; Hauptabschnitt 1: Vordruck für Bauartspezifikationen für lineare Digital-Analog-Umsetzer (DAC) Mehr |
IEC 60748-4-2 ; QC 790304:1993-11 | 1993-11 | Halbleiterbauelemente; Integrierte Schaltungen; Teil 4: Integrierte Anpassungsschaltungen; Hauptabschnitt 2: Vordruck für Bauartspezifikationen für lineare Analog-Digital-Umsetzer (ADC) Mehr |
IEC 60748-4-3 | 2006-08 | Halbleiterbauelemente - Integrierte Schaltungen - Teil 4-3: Integrierte Interfaceschaltungen - Dynamische Merkmale für Analog-Digital-Konverter (ADC) Mehr |
IEC 60748-5 | 1997-05 | Halbleiterbauelemente - Integrierte Schaltungen - Teil 5: Integrierte Kundenschaltungen Mehr |
IEC 60749-14 | 2003-08 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 14: Festigkeit der Bauelementeanschlüsse (Unversehrtheit der Anschlüsse) Mehr |
IEC 61747-10-1 | 2013-07 | Flüssigkristall-Anzeige-Bauelemente - Teil 10-1: Umwelt-, Lebensdauer- und mechanische Prüfverfahren - Mechanisch Mehr |