NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN IEC 60748-20 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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| IEC 60068-2-40 AMD 1 | 1983 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung Z/AM: Prüfung mit kombinierter Beanspruchung durch niedrige Temperaturen und Unterdruck; Änderung 1 zu IEC 60068-2-40 Mehr |
| IEC 60068-2-41 | 1976 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung Z/BM: Prüfung mit kombinierter Beanspruchung durch trockene Wärme und Unterdruck Mehr |
| IEC 60068-2-41 AMD 1 | 1983 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung Z/BM: Prüfung mit kombinierter Beanspruchung durch trockene Wärme und Unterdruck; Änderung 1 zu IEC 60068-2-41 Mehr |
| IEC 60068-2-45 | 1980 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung XA und Anleitung: Tauchen in Lösemittel Mehr |
| IEC 60068-2-45 Erratum 1 | 1981-09 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung XA und Anleitung: Tauchen in Lösemittel Mehr |
| IEC 60068-2-46 | 1982 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Anleitung für Prüfung Kd: Schwefelwasserstoffprüfung für Kontakte und Verbindungen Mehr |
| IEC 60068-2-49 | 1983 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Anleitung für Prüfung Kc: Schwefeldioxidprüfung für Kontakte und Verbindungen Mehr |
| IEC 60068-2-7 | 1983 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2; Prüfungen; Prüfung Ga und Anleitung: Konstante Beschleunigung Mehr |
| IEC 60068-2-7 AMD 1 | 1986 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung Ga und Anleitung: Konstante Beschleunigung; Änderung 1 zu IEC 60068-2-7 Mehr |
| IEC 60191-2 | 1966 | Standardisierung der mechanischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen; Teil 2: Abmessungen Mehr |
