NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60512-16-21 ; VDE 0687-512-16-21:2012-11 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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DIN EN 60512-23-2 ; VDE 0687-512-23-2:2011-06 | 2011-06 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-2: Prüfungen der Schirmung und Dämpfung - Prüfung 23b: Einfügungsdämpfung von integrierten Filtern (IEC 60512-23-2:2010); Deutsche Fassung EN 60512-23-2:2010 Mehr |
DIN EN 60512-23-4 | 2002-07 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-4: Prüfungen der Schirmung und Dämpfung; Prüfung 23d: Reflexion in Übertragungsstrecken im Zeitbereich (IEC 60512-23-4:2001); Deutsche Fassung EN 60512-23-4:2001 Mehr |
DIN EN 60512-23-7 | 2005-10 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-7: Prüfungen der Schirmung und Dämpfung - Prüfung 23g: Effektive Transferimpedanz von Steckverbindern (IEC 60512-23-7:2005); Deutsche Fassung EN 60512-23-7:2005 Mehr |
DIN EN 60512-2-5 | 2004-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-5: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands - Prüfung 2e: Kontaktstörungen (IEC 60512-2-5:2003); Deutsche Fassung EN 60512-2-5:2003 Mehr |
DIN EN 60512-25-1 | 2002-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-1: Prüfung 25a: Übersprechen (IEC 60512-25-1:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-1:2001 Mehr |
DIN EN 60512-25-2 | 2002-12 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-2: Prüfung 25b: Dämpfung (Einfügedämpfung) (IEC 60512-25-2:2002); Deutsche Fassung EN 60512-25-2:2002 Mehr |
DIN EN 60512-25-3 | 2002-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderung der Anstiegszeit (IEC 60512-25-3:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-3:2001 Mehr |
DIN EN 60512-25-4 | 2002-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d: Laufzeitverzögerung (IEC 60512-25-4:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-4:2001 Mehr |
DIN EN 60512-25-5 | 2005-05 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-5: Prüfung 25e: Rückflussdämpfung (IEC 60512-25-5:2004); Deutsche Fassung EN 60512-25-5:2004 Mehr |
DIN EN 60512-25-6 | 2004-12 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-6: Prüfung 25f: Augendiagramm und Jitter (IEC 60512-25-6:2004); Deutsche Fassung EN 60512-25-6:2004 Mehr |