NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61314-1 ; VDE 0885-314-1:2012-09 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60793-1-21 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-21: Messmethoden und Prüfverfahren; Beschichtungsgeometrie Mehr |
| IEC 60793-1-22 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-22: Messmethoden und Prüfverfahren; Längenmessung Mehr |
| IEC 60793-1-30 | 2010-05 | Lichtwellenleiter - Messmethoden und Prüfverfahren - Teil 1-30: Nachweis von Fehlern in Fasern Mehr |
| IEC 60793-1-41 | 2010-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-41: Messmethoden und Prüfverfahren - Bandbreite Mehr |
| IEC 60793-1-46 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-46: Messmethoden und Prüfverfahren; Überwachung der optischen Übertragungsänderungen Mehr |
| QC 001002-2 | 1998-06 | IEC quality assessment system for electronic components (IECQ) - Rules of procedure - Part 2: Documentation Mehr |
| QC 001002-4 | 2008-11 | IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ) - Rules of procedure - Part 4: Avionics assessment program requirements Mehr |
| QC 001002-4 AMD 1 | 2009-02 | IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ) - Rules of procedure - Part 4: Avionics assessment program requirements - Amendment 1 Mehr |
| QC 001002-5 | 2008-06 | IEC Quality assessment system for Electronic Components (IECQ Scheme) - Rules of procedure - Part 5: Hazardous substance process management requirements (IECQ HSPM) Mehr |
