NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60793-2 ; VDE 0888-300:2012-08 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60050-731 | 1991-10 | Internationales elektrotechnisches Wörterbuch; Kapitel 731: Lichtwellenleitertechnik Mehr |
| IEC 60793-1-21 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-21: Messmethoden und Prüfverfahren; Beschichtungsgeometrie Mehr |
| IEC 60793-1-22 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-22: Messmethoden und Prüfverfahren; Längenmessung Mehr |
| IEC 60793-1-30 | 2010-05 | Lichtwellenleiter - Messmethoden und Prüfverfahren - Teil 1-30: Nachweis von Fehlern in Fasern Mehr |
| IEC 60793-1-41 | 2010-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-41: Messmethoden und Prüfverfahren - Bandbreite Mehr |
| IEC 60793-1-46 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-46: Messmethoden und Prüfverfahren; Überwachung der optischen Übertragungsänderungen Mehr |
| IEC 60793-2-60 | 2008-02 | Lichtwellenleiter - Teil 2-60: Produktspezifikationen - Rahmenspezifikation für Einmodenfasern für interne Verbindungen der Kategorie C Mehr |
| DIN EN 60793-1-21 ; VDE 0888-221:2002-11 | 2002-11 | Lichtwellenleiter - Teil 1-21: Messmethoden und Prüfverfahren; Beschichtungsgeometrie (IEC 60793-1-21:2001); Deutsche Fassung EN 60793-1-21:2002 Mehr |
| DIN EN 60793-1-22 ; VDE 0888-222:2002-10 | 2002-10 | Lichtwellenleiter - Teil 1-22: Messmethoden und Prüfverfahren; Längenmessung (IEC 60793-1-22:2001); Deutsche Fassung EN 60793-1-22:2002 Mehr |
| DIN EN 60793-1-30 ; VDE 0888-230:2011-08 | 2011-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-30: Messmethoden und Prüfverfahren - Nachweis von Fehlern in Fasern (IEC 60793-1-30:2010); Deutsche Fassung EN 60793-1-30:2011 Mehr |
