NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60603-7-1 ; VDE 0687-603-7-1:2012-01 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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IEC 60603-7-41 | 2010-03 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Teil 7-41: Bauartspezifikation für ungeschirmte freie und feste Steckverbinder, 8polig, für Datenübertragungen bis 500 MHz Mehr |
IEC 60603-7-5 | 2010-04 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Teil 7-5: Bauartspezifikation für geschirmte freie und feste Steckverbinder, 8polig, für Datenübertragungen bis 250 MHz Mehr |
IEC 60603-7-51 | 2010-03 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Teil 7-51: Bauartspezifikation für geschirmte freie und feste Steckverbinder, 8polig, für Datenübertragungen bis 500 MHz Mehr |
IEC 60603-7-7 | 2010-05 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Teil 7-7: Bauartspezifikation für geschirmte freie und feste Steckverbinder, 8-polig, für Datenübertragungen bis 600 MHz Mehr |
IEC 60603-7-71 | 2010-06 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Teil 7-71: Bauartspezifikation für geschirmte freie und feste Steckverbinder, 8-polig, für Datenübertragungen bis 1000 MHz Mehr |
IEC 62153-4-12 | 2009-08 | Prüfverfahren für metallische Kommunikationskabel - Teil 4-12: Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) -Kopplungsdämpfung oder Schirmdämpfung für Verbindungstechnik - Zangenverfahren Mehr |
DIN EN 60512-10-4 | 2004-06 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 10-4: Aufprallprüfungen (freie Bauelemente), Prüfungen mit statischer Last (feste Bauelemente), Dauerprüfung und Überlastprüfungen - Prüfung 10d: Elektrische Überlast (Steckverbinder) (IEC 60512-10-4:2003); Deutsche Fassung EN 60512-10-4:2003 Mehr |
DIN EN 60512-1-1 | 2003-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 1-1: Allgemeine Untersuchungen; Prüfung 1a: Sichtprüfung (IEC 60512-1-1:2002); Deutsche Fassung EN 60512-1-1:2002 Mehr |
DIN EN 60512-11-10 | 2003-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 11-10: Klimatische Prüfungen; Prüfung 11j: Kälte (IEC 60512-11-10:2002); Deutsche Fassung EN 60512-11-10:2002 Mehr |
DIN EN 60512-11-11 | 2003-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 11-11: Klimatische Prüfungen; Prüfung 11k: Unterdruck (IEC 60512-11-11:2002); Deutsche Fassung EN 60512-11-11:2002 Mehr |