NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 50173-1 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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EN 60512-25-1 | 2001-10 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-1: Prüfung 25a: Übersprechen (IEC 60512-25-1:2001) Mehr |
EN 60512-25-2 | 2002-06 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-2: Prüfung 25b: Dämpfung (Einfügedämpfung) (IEC 60512-25-2:2002) Mehr |
EN 60512-25-4 | 2001-10 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d: Laufzeitverzögerung (IEC 60512-25-4:2001) Mehr |
EN 60512-25-5 | 2004-09 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-5: Prüfung 25e - Rückflussdämpfung (IEC 60512-25-5:2004) Mehr |
EN 60512-25-9 | 2008-11 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-9: Signalintegritätsprüfung - Prüfung 25i: Externes Nebensprechen (Alien Crosstalk) (IEC 60512-25-9:2008) Mehr |
EN 60512-4-2 | 2002-04 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 4-2: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung; Prüfung 4b: Sprühaussetzung (IEC 60512-4-2:2002) Mehr |
EN 60512-6-2 | 2002-04 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 6-2: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung; Prüfung 6b: Dauerschocken (IEC 60512-6-2:2002) Mehr |
EN 60512-6-3 | 2002-04 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 6-3: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung; Prüfung 6c: Schocken (Einzelstöße) (IEC 60512-6-3:2002) Mehr |
EN 60512-6-4 | 2002-04 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 6-4: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung; Prüfung 6d: Schwingen (sinusförmig) (IEC 60512-6-4:2002) Mehr |
EN 60529 | 1991-10 | Schutzarten durch Gehäuse (IP-Code) (IEC 60529:1989) Mehr |