NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 50173-1 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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DIN EN 60512-25-1 | 2002-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-1: Prüfung 25a: Übersprechen (IEC 60512-25-1:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-1:2001 Mehr |
DIN EN 60512-25-2 | 2002-12 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-2: Prüfung 25b: Dämpfung (Einfügedämpfung) (IEC 60512-25-2:2002); Deutsche Fassung EN 60512-25-2:2002 Mehr |
DIN EN 60512-25-4 | 2002-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d: Laufzeitverzögerung (IEC 60512-25-4:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-4:2001 Mehr |
DIN EN 60512-25-5 | 2005-05 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-5: Prüfung 25e: Rückflussdämpfung (IEC 60512-25-5:2004); Deutsche Fassung EN 60512-25-5:2004 Mehr |
DIN EN 60512-25-9 | 2009-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-9: Signalintegritätsprüfungen - Prüfung 25i: Externes Nebensprechen (Alien Crosstalk) (IEC 60512-25-9:2008); Deutsche Fassung EN 60512-25-9:2008 Mehr |
DIN EN 60512-3-1 | 2003-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 3-1: Prüfungen der Isolation; Prüfung 3a: Isolationswiderstand (IEC 60512-3-1:2002); Deutsche Fassung EN 60512-3-1:2002 Mehr |
DIN EN 60512-4-1 | 2004-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 4-1: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung - Prüfung 4a: Spannungsfestigkeit (IEC 60512-4-1:2003); Deutsche Fassung EN 60512-4-1:2003 Mehr |
DIN EN 60512-4-2 | 2003-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 4-2: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung; Prüfung 4b: Sprühaussetzung (IEC 60512-4-2:2002); Deutsche Fassung EN 60512-4-2:2002 Mehr |
DIN EN 60512-5-2 | 2003-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 5-2: Prüfungen der Strombelastbarkeit; Prüfung 5b: Strombelastbarkeit (Derating-Kurve) (IEC 60512-5-2:2002); Deutsche Fassung EN 60512-5-2:2002 Mehr |
DIN EN 60512-6-2 | 2003-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 6-2: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung; Prüfung 6b: Dauerschocken (IEC 60512-6-2:2002); Deutsche Fassung EN 60512-6-2:2002 Mehr |