NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 62149-5 ; VDE 0886-149-5:2011-06 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 61076-4-115 | 2003-02 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Teil 4-115: Steckverbinder für gedruckte Schaltungen; Rückplatten-Steckverbinder für InfiniBand-Geräte Mehr |
| IEC 61076-7 ; QC 480600:2000-06 | 2000-06 | Steckverbinder für Gleichspannungs- und Niederfrequenzanwendungen sowie digitale Anwendungen mit hoher Übertragungsrate - Teil 7: Endgehäuse mit bewerteter Qualität einschließlich Bauartanerkennung und Befähigungsanerkennung - Rahmenspezifikation Mehr |
| IEC 61076-7-001 | 2004-07 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Teil 7-001: Kabelausgangszubehör - Vordruck für Bauartspezifikation Mehr |
| IEC 61076-7-100 | 2006-05 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Teil 7-100: Kabelausgangszubehör - Bauartspezifikation für eine metrische Kabelabdichtung bestehend aus einem integrierten Teil von stark beanspruchbaren Steckverbinderhaubengehäusen oder Rundsteckverbindergehäusen und einem Dichtungssystem Mehr |
| IEC 61280-2-1 | 2010-03 | Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationssysteme - Teil 1-4: Prüfverfahren für digitale Systeme - Messung der Empfindlichkeitsschwelle und der maximalen Eingangsleistung von Empfängern Mehr |
| IEC 61280-2-10 | 2005-07 | Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationsuntersysteme - Teil 2-10: Digitale Systeme - Messung von zeitaufgelöstem Chirp und Alphafaktor von Lasersendern Mehr |
| IEC 61280-2-11 | 2006-01 | Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationsuntersysteme - Teil 2-11: Digitale Systeme - Bestimmung des mittleren Q-Faktors durch Auswertung des Amplitudenhistogramms zur Qualitätsüberwachung optischer Signale Mehr |
| IEC 61280-2-3 | 2009-07 | Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationsuntersysteme - Teil: 2-3: Digitale Systeme - Messung von Jitter und Wander Mehr |
| IEC 61280-2-9 | 2009-02 | Grundlegende Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationsuntersysteme - Teil 2-9: Digitale Systeme - Messung des optischen Signal-Rausch-Verhältnisses für dichte Wellenlängen-Multiplex-Systeme Mehr |
| IEC 61754-12 | 1999-08 | Steckgesichter von Lichtwellenleiter-Steckverbindern -Teil 12: Bauart FS Steckverbinderfamilie Mehr |
