NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 62343-3-1 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 61300-3-36 | 2000-02 | Lichtwellenleiter-Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 3-36: Untersuchungen und Messungen - Messverfahren für den Innen- und Außendurchmesser von Stiften für LWL-Steckverbinder Mehr |
| IEC 61300-3-37 | 2005-06 | Lichtwellenleiter-Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Mess- und Prüfverfahren - Teil 3-37: Untersuchungen und Messungen - Endflächenwinkel schräg polierter optischer Fasern Mehr |
| IEC 61300-3-42 | 2007-11 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 3-42: Untersuchungen und Messungen - Dämpfung von Einmoden-Zentrierhülsen und/oder Adaptern mit gefederten Zentrierhülsen Mehr |
| IEC 61300-3-43 | 2009-01 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 3-43: Untersuchungen und Messungen - Messung der Modenverteilung an LWL-Quellen Mehr |
| IEC 61300-3-6 | 2008-12 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 3-6: Untersuchungen und Messungen - Rückflussdämpfung Mehr |
| IEC 61300-3-9 | 1997-03 | Lichtwellenleiter-Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Meßverfahren - Teil 3-9: Untersuchungen und Messungen - Fernnebensprechen Mehr |
