NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61508-2 ; VDE 0803-2:2011-02 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 61508-1 | 2010-04 | Funktionale Sicherheit sicherheitsbezogener elektrischer/elektronischer/programmierbarer elektronischer Systeme - Teil 1: Allgemeine Anforderungen Mehr |
| IEC 61508-3 | 2010-04 | Funktionale Sicherheit sicherheitsbezogener elektrischer/elektronischer/programmierbarer elektronischer Systeme - Teil 3: Anforderungen an Software Mehr |
| IEC 61508-4 | 2010-04 | Funktionale Sicherheit sicherheitsbezogener elektrischer/elektronischer/programmierbarer elektronischer Systeme - Teil 4: Begriffe und Abkürzungen Mehr |
| IEC 61508-7 | 2010-04 | Funktionale Sicherheit sicherheitsbezogener elektrischer/elektronischer/programmierbarer elektronischer Systeme - Teil 7: Überblick über Verfahren und Maßnahmen Mehr |
| DIN EN 60300-3-2 | 2005-08 | Zuverlässigkeitsmanagement - Teil 3-2: Anwendungsleitfaden - Erfassung von Zuverlässigkeitsdaten im Betrieb (IEC 60300-3-2:2004); Deutsche Fassung EN 60300-3-2:2005 Mehr |
| DIN EN 60601-1 Beiblatt 2 ; VDE 0750-1 Beiblatt 2:2009-09 | 2009-09 | Graphische Symbole für elektrische Geräte in der medizinischen Anwendung (IEC/TR 60878:2003, modifiziert), Text Deutsch und Englisch Mehr |
| DIN EN 60601-2-22 Beiblatt 1 ; VDE 0750-2-22 Beiblatt 1:2007-10 | 2007-10 | Sicherheit von Lasereinrichtungen - Leitfaden für die sichere Anwendung von Laserstrahlung am Menschen (IEC/TR 60825-8:2006) Mehr |
| DIN EN 60601-2-29 ; VDE 0750-2-29:2009-06 | 2009-06 | Medizinische elektrische Geräte - Teil 2-29: Besondere Festlegungen für die Sicherheit einschließlich der wesentlichen Leistungsmerkmale von Strahlentherapiesimulatoren (IEC 60601-2-29:2008); Deutsche Fassung EN 60601-2-29:2008 Mehr |
| DIN EN 61164 | 2004-11 | Zuverlässigkeitswachstum - Statistische Prüf- und Schätzverfahren (IEC 61164:2004); Deutsche Fassung EN 61164:2004 Mehr |
| DIN EN 61165 | 2007-02 | Anwendung des Markoff-Verfahrens (IEC 61165:2006); Deutsche Fassung EN 61165:2006 Mehr |
