NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN 61076-2-107 ; VDE 0687-76-2-107:2011-02 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
DIN EN 60512-23-7 2005-10 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-7: Prüfungen der Schirmung und Dämpfung - Prüfung 23g: Effektive Transferimpedanz von Steckverbindern (IEC 60512-23-7:2005); Deutsche Fassung EN 60512-23-7:2005 Mehr 
DIN EN 60512-2-5 2004-01 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-5: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands - Prüfung 2e: Kontaktstörungen (IEC 60512-2-5:2003); Deutsche Fassung EN 60512-2-5:2003 Mehr 
DIN EN 60512-25-1 2002-08 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-1: Prüfung 25a: Übersprechen (IEC 60512-25-1:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-1:2001 Mehr 
DIN EN 60512-25-2 2002-12 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-2: Prüfung 25b: Dämpfung (Einfügedämpfung) (IEC 60512-25-2:2002); Deutsche Fassung EN 60512-25-2:2002 Mehr 
DIN EN 60512-25-3 2002-08 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderung der Anstiegszeit (IEC 60512-25-3:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-3:2001 Mehr 
DIN EN 60512-25-4 2002-08 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d: Laufzeitverzögerung (IEC 60512-25-4:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-4:2001 Mehr 
DIN EN 60512-25-5 2005-05 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-5: Prüfung 25e: Rückflussdämpfung (IEC 60512-25-5:2004); Deutsche Fassung EN 60512-25-5:2004 Mehr 
DIN EN 60512-25-6 2004-12 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-6: Prüfung 25f: Augendiagramm und Jitter (IEC 60512-25-6:2004); Deutsche Fassung EN 60512-25-6:2004 Mehr 
DIN EN 60512-25-7 2005-12 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-7: Prüfung 25g - Impedanz, Reflexionskoeffizient und Spannungsstehwellenverhältnis (IEC 60512-25-7:2004); Deutsche Fassung EN 60512-25-7:2005 Mehr 
DIN EN 60512-25-9 2009-08 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-9: Signalintegritätsprüfungen - Prüfung 25i: Externes Nebensprechen (Alien Crosstalk) (IEC 60512-25-9:2008); Deutsche Fassung EN 60512-25-9:2008 Mehr