NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61978-1 ; VDE 0885-978-1:2010-11 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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IEC 61300-3-43 | 2009-01 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 3-43: Untersuchungen und Messungen - Messung der Modenverteilung an LWL-Quellen Mehr |
IEC 61300-3-6 | 2008-12 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 3-6: Untersuchungen und Messungen - Rückflussdämpfung Mehr |
IEC 61300-3-9 | 1997-03 | Lichtwellenleiter-Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Meßverfahren - Teil 3-9: Untersuchungen und Messungen - Fernnebensprechen Mehr |
IEC 61754-13 | 2006-02 | Steckgesichter von Lichtwellenleiter-Steckverbindern - Teil 13: Bauart FC-PC Steckverbinderfamilie Mehr |
IEC 61754-15 | 2009-06 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Steckgesichter von Lichtwellenleiter-Steckverbindern - Teil 15: Steckverbinderfamilie der Bauart LSH Mehr |
IEC/TR3 61930 | 1998-08 | Lichtwellenleiter - Graphische Symbole Mehr |
DIN EN 61073-1 ; VDE 0888-731:2009-11 | 2009-11 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Mechanische Spleiße und Fusionsspleißschutze für optische Fasern und Kabel - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 61073-1:2009); Deutsche Fassung EN 61073-1:2009 Mehr |
DIN EN 61754-13 | 2006-11 | Steckgesichter von Lichtwellenleiter-Steckverbindern - Teil 13: Bauart FC-PC Steckverbinderfamilie (IEC 61754-13:2006); Deutsche Fassung EN 61754-13:2006 Mehr |
DIN EN 61754-15 | 2010-04 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Steckgesichter von Lichtwellenleiter-Steckverbindern - Teil 15: Steckverbinderfamilie der Bauart LSH (IEC 61754-15:2009); Deutsche Fassung EN 61754-15:2009 Mehr |
IEC 61300-2-12 | 2009-07 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-12: Prüfungen - Schlag Mehr |