NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN 50173-1 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
EN 60512-11-10 2002-04 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 11-10: Klimatische Prüfungen; Prüfung 11j: Kälte (IEC 60512-11-10:2002) Mehr 
EN 60512-11-12 2002-04 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 11-12: Klimatische Prüfungen; Prüfung 11m: Feuchte Wärme, zyklisch (IEC 60512-11-12:2002) Mehr 
EN 60512-11-4 2002-04 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 11-4: Klimatische Prüfungen; Prüfung 11d: Rascher Temperaturwechsel (Zweikammerverfahren) (IEC 60512-11-4:2002) Mehr 
EN 60512-11-7 2003-09 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 11-7: Klimatische Prüfungen; Prüfung 11g: Korrosionsprüfung mit strömendem Mischgas (IEC 60512-11-7:2003) Mehr 
EN 60512-11-9 2002-04 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 11-9: Klimatische Prüfungen; Prüfung 11i: Trockene Wärme (IEC 60512-11-9:2002) Mehr 
EN 60512-19-3 1997-10 Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Meß- und Prüfverfahren - Teil 19: Prüfungen der Widerstandsfähigkeit gegen Chemikalien - Hauptabschnitt 3: Prüfung 19c - Beständigkeit gegen Flüssigkeiten (IEC 60512-19-3:1997) Mehr 
EN 60512-23-3 2001-02 Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-3: Prüfung 23c: Schirmwirkung von Steckverbindern und Zubehör (IEC 60512-23-3:2000) Mehr 
EN 60512-25-1 2001-10 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-1: Prüfung 25a: Übersprechen (IEC 60512-25-1:2001) Mehr 
EN 60512-25-2 2002-06 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-2: Prüfung 25b: Dämpfung (Einfügedämpfung) (IEC 60512-25-2:2002) Mehr 
EN 60512-25-4 2001-10 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d: Laufzeitverzögerung (IEC 60512-25-4:2001) Mehr