NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60603-7 ; VDE 0687-603-7:2010-05 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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DIN EN 60512-25-4 | 2002-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d: Laufzeitverzögerung (IEC 60512-25-4:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-4:2001 Mehr |
DIN EN 60512-25-5 | 2005-05 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-5: Prüfung 25e: Rückflussdämpfung (IEC 60512-25-5:2004); Deutsche Fassung EN 60512-25-5:2004 Mehr |
DIN EN 60512-25-6 | 2004-12 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-6: Prüfung 25f: Augendiagramm und Jitter (IEC 60512-25-6:2004); Deutsche Fassung EN 60512-25-6:2004 Mehr |
DIN EN 60512-25-7 | 2005-12 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-7: Prüfung 25g - Impedanz, Reflexionskoeffizient und Spannungsstehwellenverhältnis (IEC 60512-25-7:2004); Deutsche Fassung EN 60512-25-7:2005 Mehr |
DIN EN 60512-25-9 | 2009-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-9: Signalintegritätsprüfungen - Prüfung 25i: Externes Nebensprechen (Alien Crosstalk) (IEC 60512-25-9:2008); Deutsche Fassung EN 60512-25-9:2008 Mehr |
DIN EN 60512-2-6 | 2003-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-6: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands; Prüfung 2f: Durchgangswiderstand Gehäuse (Schirm) (IEC 60512-2-6:2002); Deutsche Fassung EN 60512-2-6:2002 Mehr |
DIN EN 60512-3-1 | 2003-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 3-1: Prüfungen der Isolation; Prüfung 3a: Isolationswiderstand (IEC 60512-3-1:2002); Deutsche Fassung EN 60512-3-1:2002 Mehr |
DIN EN 60512-4-1 | 2004-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 4-1: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung - Prüfung 4a: Spannungsfestigkeit (IEC 60512-4-1:2003); Deutsche Fassung EN 60512-4-1:2003 Mehr |
DIN EN 60512-4-2 | 2003-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 4-2: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung; Prüfung 4b: Sprühaussetzung (IEC 60512-4-2:2002); Deutsche Fassung EN 60512-4-2:2002 Mehr |
DIN EN 60512-4-3 | 2003-01 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 4-3: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung; Prüfung 4c: Spannungsfestigkeit vorisolierter Crimphülsen (IEC 60512-4-3:2002); Deutsche Fassung EN 60512-4-3:2002 Mehr |