NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 50411-2 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| EN 61300-3-1 | 2005-12 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 3-1: Untersuchungen und Messungen - Sichtprüfung (IEC 61300-3-1:2005) Mehr |
| EN 61300-3-10 | 2007-05 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Meßverfahren - Teil 3-10: Untersuchungen und Messungen - Lehrenhaltekraft (IEC 61300-3-10:2006) Mehr |
| EN 61300-3-11 | 1997-08 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Meßverfahren - Teil 3-11: Untersuchungen und Messungen - Steck- und Trennkräfte (IEC 61300-3-11:1995) Mehr |
| EN 61300-3-12 | 1997-04 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Meßverfahren - Teil 3-12: Untersuchungen und Messungen - Dämpfung in Abhängigkeit der Polarisation bei einem Einmoden-Lichtwellenleiter-Bauteil: Matritzenberechnung (IEC 61300-3-12:1997) Mehr |
| EN 61300-3-13 | 1997-08 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Meßverfahren - Teil 3-13: Untersuchungen und Messungen - Schaltstabilität eines faseroptischen Schalters (IEC 61300-3-13:1995) Mehr |
| EN 61300-3-14 | 2007-02 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 3-14: Untersuchungen und Messungen - Genauigkeit und Reproduzierbarkeit der Einstellung eines variablen Dämpfungsgliedes (IEC 61300-3-14:2006) Mehr |
| EN 61300-3-15 | 2007-02 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 3-15: Messungen - Exzentrizität eines konvex polierten Stiftes (IEC 61300-3-15:2006) Mehr |
| EN 61300-3-16 | 2003-01 | Lichtwellenleiter-Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 3-16: Untersuchungen und Messungen; Endflächenradius sphärisch polierter Stifte (IEC 61300-3-16:2003) Mehr |
| EN 61300-3-17 | 1999-10 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Meßverfahren - Teil 3-17: Untersuchungen und Messungen - Anschliffwinkel schräg polierter Stifte (IEC 61300-3-17:1999) Mehr |
| EN 61300-3-18 | 2006-05 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Meßverfahren - Teil 3-18: Untersuchungen und Messungen - Genauigkeit der Außenzentrierung eines Steckverbinders mit schräger Endfläche (IEC 61300-3-18:2005) Mehr |
