NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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DIN CLC/TS 50467 ; VDE V 0115-490:2009-01 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer	Ausgabe	Titel
EN 60512-2-2	2003-07	Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-2: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands; Prüfung 2b: Durchgangswiderstand, mit vorgeschriebenem Strom (IEC 60512-2-2:2003) Mehr
EN 60512-23-7	2005-03	Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-7: Prüfungen der Schirmung und Dämpfung - Prüfung 23g: Effektive Transferimpedanz von Steckverbindern (IEC 60512-23-7:2005) Mehr
EN 60512-2-5	2003-07	Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-5: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands; Prüfung 2e: Kontaktstörungen (IEC 60512-2-5:2003) Mehr
EN 60512-3-1	2002-04	Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 3-1: Prüfungen der Isolation; Prüfung 3a: Isolationswiderstand (IEC 60512-3-1:2002) Mehr
EN 60512-5-2	2002-04	Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 5-2: Prüfungen der Strombelastbarkeit; Prüfung 5b: Strombelastbarkeit (Derating-Kurve) (IEC 60512-5-2:2002) Mehr
IEC 60512-6	1984	Elektromechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Grundlegende Prüf- und Meßverfahren; Teil 6: Klima- und Lötprüfungen Mehr